導(dǎo)航
Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀
Winner601?納米粒度及電位分析儀是濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測(cè)試能力的動(dòng)態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。 Winner601使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項(xiàng)試驗(yàn)。
關(guān)鍵詞：
所屬分類：
納米粒度及電位儀
咨詢熱線：
Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀是濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測(cè)試能力的動(dòng)態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。
Winner601使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項(xiàng)試驗(yàn)。
技術(shù)參數(shù)：
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規(guī)格型號(hào) |
Winner601 |
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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008 |
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測(cè)試范圍 |
1-10000nm（與樣品有關(guān)） |
-500mV — +500mV |
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濃度范圍 |
0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān)) |
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電泳遷移率范圍 |
> ±20μm.cm/V.s |
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最高電導(dǎo)率 |
200mS/cm（取決于樣品） |
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準(zhǔn)確度誤差 |
<1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
<15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
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重復(fù)性誤差 |
<1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
<15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
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激光光源 |
半導(dǎo)體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調(diào)） |
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探測(cè)器 |
光電倍增管PMT |
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散射角 |
90o |
18o |
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樣品池體積 |
10mm*10mm*40mm, 1--4mL |
10mm*10mm*60mm, 1mL |
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溫控范圍 |
5-45℃ |
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溫控精度 |
0.1℃ |
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測(cè)試速度 |
<5 Min |
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數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù) |
規(guī)格型號(hào) |
HA1024 |
HA1024 |
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自相關(guān)通道 |
892 |
892 |
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|
基線通道 |
4 |
- |
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|
物理通道數(shù) |
5000 |
- |
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延遲時(shí)間 |
1µs-10ms（可調(diào)） |
1µs-10ms（可調(diào)） |
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體積 |
560mm*450mm*300mm |
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重量 |
20Kg |
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產(chǎn)品特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
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測(cè)試原理 |
采用電泳光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的電泳運(yùn)動(dòng)速度測(cè)定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運(yùn)動(dòng)的群體速度，激光照射這些顆粒，導(dǎo)致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。 |
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超高速數(shù)據(jù)采集 |
本儀器的核心部件通過(guò)HA1024數(shù)字相關(guān)器，能實(shí)時(shí)完成電泳散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度的信息，為Zeta電位測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性奠定基礎(chǔ)。 |
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高靈敏度信噪比 |
采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管，對(duì)光子信號(hào)具有極高的靈敏度和信噪比。 |
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高精度恒溫控制 |
采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)0.1℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性。 |
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穩(wěn)定的光路系統(tǒng) |
采用光學(xué)移頻裝置與光纖耦合技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性。 |
適用范圍：
Winner601 納米粒度及電位分析儀同時(shí)具有Zeta電位及納米粒徑的分析測(cè)試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測(cè)量，能廣泛應(yīng)用于精細(xì)化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時(shí)也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測(cè)儀器。
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Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀
Winner601?納米粒度及電位分析儀是濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測(cè)試能力的動(dòng)態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。 Winner601使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項(xiàng)試驗(yàn)。
所屬分類：
納米粒度及電位儀
產(chǎn)品附件：
聯(lián)系我們
產(chǎn)品描述
產(chǎn)品簡(jiǎn)介：
Winner601 Zeta電位及納米粒度分析儀是濟(jì)南微納顆粒儀器股份有限公司推出的新一款具備zeta電位和納米粒度雙重測(cè)試能力的動(dòng)態(tài)光散射粒度儀產(chǎn)品。
Winner601使用電泳光散射技術(shù)測(cè)定zeta電位，求出等電點(diǎn)，是認(rèn)識(shí)顆粒表面電性的重要方法，在顆粒表面處理中也是重要的手段。與國(guó)內(nèi)外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優(yōu)越性，并可以配合激光粒度分布儀聯(lián)合應(yīng)用于各項(xiàng)試驗(yàn)。
技術(shù)參數(shù)：
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規(guī)格型號(hào) |
Winner601 |
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執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) |
GB/T 19627-2005/ISO 13321：1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412：2008 |
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測(cè)試范圍 |
1-10000nm（與樣品有關(guān)） |
-500mV — +500mV |
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濃度范圍 |
0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關(guān)) |
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電泳遷移率范圍 |
> ±20μm.cm/V.s |
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最高電導(dǎo)率 |
200mS/cm（取決于樣品） |
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準(zhǔn)確度誤差 |
<1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
<15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
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重復(fù)性誤差 |
<1%（國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)樣品D50值） |
<15%（標(biāo)準(zhǔn)樣品） |
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激光光源 |
半導(dǎo)體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調(diào)） |
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探測(cè)器 |
光電倍增管PMT |
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散射角 |
90o |
18o |
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樣品池體積 |
10mm*10mm*40mm, 1--4mL |
10mm*10mm*60mm, 1mL |
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溫控范圍 |
5-45℃ |
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溫控精度 |
0.1℃ |
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測(cè)試速度 |
<5 Min |
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數(shù)字相關(guān)器主要參數(shù) |
規(guī)格型號(hào) |
HA1024 |
HA1024 |
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自相關(guān)通道 |
892 |
892 |
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基線通道 |
4 |
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物理通道數(shù) |
5000 |
- |
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延遲時(shí)間 |
1µs-10ms（可調(diào)） |
1µs-10ms（可調(diào)） |
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體積 |
560mm*450mm*300mm |
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重量 |
20Kg |
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產(chǎn)品特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)：
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測(cè)試原理 |
采用電泳光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù)，根據(jù)顆粒在液體中的電泳運(yùn)動(dòng)速度測(cè)定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運(yùn)動(dòng)的群體速度，激光照射這些顆粒，導(dǎo)致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。 |
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超高速數(shù)據(jù)采集 |
本儀器的核心部件通過(guò)HA1024數(shù)字相關(guān)器，能實(shí)時(shí)完成電泳散射光強(qiáng)的采集和自相關(guān)函數(shù)運(yùn)算，從而有效地反映顆粒的電泳運(yùn)動(dòng)速度的信息，為Zeta電位測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性奠定基礎(chǔ)。 |
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高靈敏度信噪比 |
采用專業(yè)級(jí)高性能光電倍增管，對(duì)光子信號(hào)具有極高的靈敏度和信噪比。 |
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高精度恒溫控制 |
采用半導(dǎo)體溫控技術(shù)，溫控精度高達(dá)0.1℃,使樣品在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中始終處于恒溫狀態(tài)，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運(yùn)動(dòng)變化導(dǎo)致的測(cè)試偏差，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性及穩(wěn)定性。 |
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穩(wěn)定的光路系統(tǒng) |
采用光學(xué)移頻裝置與光纖耦合技術(shù)搭建而成的光路系統(tǒng)，使探測(cè)系統(tǒng)不僅體積小，而且具有很強(qiáng)的抗干擾能力，從而保證了測(cè)試的穩(wěn)定性。 |
適用范圍：
Winner601 納米粒度及電位分析儀同時(shí)具有Zeta電位及納米粒徑的分析測(cè)試功能，適用于多種不同的納米乳液、懸浮液膠體等的粒度和表面電位測(cè)量，能廣泛應(yīng)用于精細(xì)化工行業(yè)納米材料、表活、低聚物等的研發(fā)和生產(chǎn)質(zhì)控，同時(shí)也是油墨，醫(yī)藥制劑等行業(yè)產(chǎn)品研發(fā)及質(zhì)控檢測(cè)儀器。
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